Перечень применяемых в ЦКП методик измерений

Аттестованные методики выполнения измерений и/или соответствующие стандарты

Наименование методики Шифр методики, дата и номер свидетельства, организация, выдавшая Свидетельство
1 Шероховатость и топография поверхности. Методика выполнения измерений шероховатости и топографии поверхности на сканирующем зондовом микроскопе Ntegra prima Basic. МВИ ШТП/08
Свидетельство №1-09 от 03.03.09 г. ФГУ ТИСНУМ
2 Коэффициент трещиностойкости К1с. Методика выполнения измерений коэффициента трещиностойкости на микротвердомере ПМТ-3М. МВИ КТ/09
Свидетельство №2-09 от 03.03.09 г. ФГУ ТИСНУМ
3 Методика выполнения измерений шероховатости и топографии поверхности на оптическом профилометре. МВИ ШТПОП/08
Свидетельство №3-09 от 27.07.10 г. ФГУ ТИСНУМ
4 МВИ «Определение механических свойств поверхности по данным нанотвердометрии и силовой спектроскопии с разрешением по оси Z при построении изображений (сканировании) поверхности и во время процедур нагружения – разгружения (не более 1 нм)».
(для сканирующего зондового микроскопа с разрешением не более 1 нм).
МВИ РСНТИДИ/09
Свидетельство №5-09 от 26.06.09 г. ФГУ ТИСНУМ
5 Методика выполнения измерений твердости методом измерительного динамического индентирования на СЗМ «НаноСкан-3Д». МВИ ТИДИ/09
Свидетельство №1-10 от 24.06.10 г. ФГУ ТИСНУМ
6 Методика выполнения измерений модуля упругости и упругого восстановления методом измерительного динамического индентирования на СЗМ «НаноСкан 3Д». МВИ МУВИДИ/09
Свидетельство №2-10 от 24.06.10 г. ФГУ ТИСНУМ
7 Методика выполнения измерений твердости по восстановленному отпечатку в нанометровом диапазоне на СЗМ «НаноСкан-3Д». МВИ ТВОНМ/10
Свидетельство №3-10 от 24.06.10 г. ФГУ ТИСНУМ


Методики, применяемые при работах на оборудовании ЦКП ФГБНУ ТИСНУМ

Наименование методики
8 Определение линейных размеров образцов (в т.ч. монокристалла алмаза)
9 Определение массы образцов (в т.ч. монокристалла алмаза)
10 Определение микротвердости образцов (в т.ч. монокристалла алмаза)
11 Метод измерения шероховатости поверхности пластин
12 Определение концентрации примеси парамагнитного азота в монокристалле алмаза
13 Определение удельного электрического сопротивления монокристалла алмаза
14 Определение ширины пика КРС при 1332 см-1 на его полувысоте
15 Определение коэффициента поглощения в диапазоне от 240 нм до 25 мкм (исключая субдиапазон от 2 до 6,5 мкм)
16 Определение края поглощения в УФ диапазоне
17 Определение спектральной чувствительности, максимума спектральной чувствительности λ макс, токовой чувствительности при λ макс, спектрального диапазона чувствительности фотосопротивления
18 Определение угла между гранями пирамиды и осью пирамиды наноиндентора
19 Определение эффективного размера острия пирамиды наноиндентора
20 Определение шероховатости поверхностей граней пирамиды наноиндентора
21 Определение изгибной жесткости датчика-кантеливера
22 Определение максимального перемещения концевой точки датчика-кантеливера
23 Определение минимального разрешения по нагрузке датчика-кантеливера
24 Определение теплопроводности теплоотвода
25 Метод измерения толщины покрытия;
Определение толщины CVD слоя
26 Определение концентрации примеси азота в CVD слое
27 Определение удельного электрического сопротивления CVD слоя
28 Метод измерения модуля упругости Е сверхтвердых режущих пластин
29 Определение предела прочности при изгибе сверхтвердых режущих пластин
30 Определение предела прочности при сжатии сверхтвердых режущих пластин
31 Определение относительной износостойкости сверхтвердых режущих пластин
32 Выполнения измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов
33 Измерений линейных размеров объектов в режиме изображения и межплоскостных расстояний в режиме дифракции
34 Определение наличия ростовых дефектов и глубины их расположения в монокристалле алмаза